德國原廠技術專家蒞臨指導
參展機型 SAM 300 B
參展機型 SAM 302 HD2
德國技術專家 Mr.Zyzi?
Auto Wafer 300 全自動晶圓鍵合超聲掃描檢測系統
SAM 302 HD2 HiSA 翹曲樣品告訴實時自動對焦 及 DTS 高分辨動態透射掃描
滬公網安備 31011002002589號